晶體解理是指在正應力作用下使晶體斷裂面沿一定的晶面(即解理面)分離;對于二維層狀材料來說,層內是通過很強的共價鍵或離子鍵結合,而層間則多是靠較弱的范德華力,一般采用簡單的陶瓷棍加膠水的方式,就可以剝離出新鮮高質量的晶面;但對于結構上偏向三維性的材料,例如:金屬,由于層間力較強,很難得到平整的解理面。
費勉儀器開發的超高真空低溫原位解理系統,在超高真空環境下,可以很好的保護新鮮的樣品表面,低溫可以提高樣品的脆性,得到更加平滑的解理面。該設備與表面分析設備真空互聯,可實現原位解離、拋光、轉移整套流程,滿足不同用戶對各種材料表面性質的實驗研究,為角分辨光電子能譜儀(ARPES)和掃描隧道顯微鏡(STM)擴展了更豐富的樣品來源。
● 可實現低溫環境解理,最低溫度<100K,對于金屬等材料來說,脆點以下可以得到更好的解理表面 | ● 可實現超高真空環境解理,真空度優于 5x10-10 mbar |
● 可對大尺寸樣品實現精準的晶面解理,最大截面尺寸5mm x 5mm | ● 操作便捷,借助Wobble Stick可實現原位解理 |
● 解理面可實現原子層級的平整度 | ● 采用標準的Flag Type Sample Holder,兼容性好,可以無縫互聯ARPES,STM,XPS等表面分析設備 |
● 除了作為獨立系統通過真空互聯外,該解理臺還可以作為兼容模塊安裝在ARPES,STM樣品臺下,擴大現有系統的研究范圍 |
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